Статьи

В здании Корпорации развития Зеленограда состоялась 4-я научная «Школа молодых ученых» по электронной микроскопии на тему «Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях наноструктур и наноматериалов».

Встреча прошла в рамках XXVI Российской конференции по электронной микроскопии (РКЭМ-2016). На мероприятии со своими лекциями выступили российские специалисты из Национального исследовательского центра «Курчатовский институт», Института проблем технологии микроэлектроники и особо чистых материалов РАН, компании «Системы для микроскопии и анализа» и Института кристаллографии РАН. Также свои доклады зачитали представители зарубежных компаний: немецкой Bruker и голландской FEI. Слушателями школы стали молодые ученые как из России, так и стран СНГ. По словам сотрудницы Института физики Национальной академии наук Беларуси Ирины Андрухович, для нее лекции были очень полезными и информативными. Многие из участников мероприятия собираются не только посетить конференцию РКЭМ- 2016, но и сами будут выступать с докладами по микроскопии. Так, аспирант из иркутского Института геохимии им. Виноградова СО РАН Василий Татаринов, кроме лекций, в рамках школы еще посетил презентацию атомно-силового микроскопа НЕКСТ компании «НТ-МДТ», а на следующий день на конференции прочел вместе с коллегой доклад по электронной микроскопии на тему «Особенности РСМА и РЭМ при поиске и изучении состава минералов, содержащих редкие и благородные металлы в рудах разного типа». Еще один из слушателей школы, сотрудник зеленоградского НИУ «МИЭТ» Михаил Ловыгин, также с коллегами выступил на тему «Исследование структуры слоя низкотемпературного арсенида галлия методами просвечивающей электронной микроскопии».

Для участников мероприятия была организована экскурсия на завод «Микрон». В рамках «Школы» прошли два мастер-класса: «Атомно-силовая микроскопия» от компании «НТМДТ» и «Цифровая оптическая 3D- микроскопия» от ООО «Серния». На первом специалисты компании «НТ-МДТ» в режиме реального времени показали работу атомно- силового микроскопа НЕКСТ. А сотрудники ООО «Серния» продемонстрировали цифровой оптический микроскоп Keyence VHX- 5000. Участники мастер-классов смогли задать экспертам компаний вопросы и самостоятельно провести измерения образцов. Кроме этого, прошел бизнес- форум «Россия-Израиль», в рамках которого состоялось знакомство израильских компаний с потенциальными партнерами в Зеленограде.

П.С.